विदेशी मीडिया रिपोर्टों के अनुसार, जापानी लाइट डिटेक्टर निर्माता हमामत्सु फोटोनिक्स ने एक उच्च गति निरीक्षण प्रणाली विकसित की है जो एक वेफर पर माइक्रो एलईडी चिप्स की गुणवत्ता का निरीक्षण कर सकती है।
बताया गया है कि डिटेक्शन सिस्टम को MiNY PL कहा जाता है। यह एलईडी चिप्स की उपस्थिति, चमकदार तीव्रता और तरंग दैर्ध्य में असामान्यताओं का पता लगाने के लिए फोटोलुमिनेसेंस परीक्षण तकनीक (पीएल) का उपयोग करता है। उपयोग की जाने वाली फोटोलुमिनेसिस टेस्ट तकनीक हमामत्सु फोटॉन की इमेज प्रोसेसिंग तकनीक और नए इमेजिंग मोड्यूल पर आधारित है।
Hamamatsu Photonics ने कहा कि MiNY PL सिस्टम यह निर्धारित कर सकता है कि माइक्रो एलईडी चिप्स का परीक्षण करते समय चिप योग्य है या नहीं, जो प्रदर्शन के लिए माइक्रो एलईडी उत्पादों की उपज और माइक्रो एलईडी आर जीजी एम्पी की दक्षता में सुधार के लिए अनुकूल है;
इसके अलावा, MiNY PL सिस्टम भविष्य में माइक्रो एलईडी मास प्रोडक्शन लाइन पर निरीक्षण प्रक्रिया के 100% को सरल करेगा।
संयोग से, हाल ही में खबर थी कि ऐप्पल एक माइक्रो एलईडी निरीक्षण प्रणाली विकसित कर रहा है और संबंधित पेटेंट प्राप्त कर चुका है।
Apple&की प्रणाली का पता लगाता है और डिस्प्ले पैनल में स्थानांतरित होने से पहले माइक्रो एलईडी चिप की गुणवत्ता का सटीक पता लगाता है। उद्देश्य दोष दर और उत्पादन प्रक्रिया के नुकसान को कम करना भी है, जिससे प्रदर्शन की विश्वसनीयता में सुधार होता है और उत्पाद की गुणवत्ता सुनिश्चित होती है।
माइक्रो एलईडी आकार सिकुड़ता है, उपयोग किए गए चिप्स की संख्या और स्थानांतरण संबंध प्रक्रिया का कार्यभार बहुत बढ़ गया है। यदि चिप दोष की दर बहुत अधिक है, तो यह बाद की प्रक्रियाओं की उत्पादन उपज को कम कर देगा, काम का बोझ और समग्र लागत बढ़ाएगा। इसलिए, फ्रंट-एंड प्रक्रिया से उत्पादन की उपज को नियंत्रित करने के लिए विशेष रूप से महत्वपूर्ण है जैसे कि चिप की गुणवत्ता का पता लगाना, लेकिन माइक्रो एलईडी उद्योग में यह भी कठिनाइयों में से एक है।
इसके लिए, कई उपकरण निर्माताओं ने माइक्रो एलईडी परीक्षण उपकरणों पर अपने अनुसंधान और विकास के प्रयासों को बढ़ा दिया है, और वर्तमान प्रगति असमान है। विशिष्ट विवरणों के बावजूद, प्रासंगिक समाचार अब दिखाता है कि चिप गुणवत्ता निरीक्षण लिंक में एक सफलता मिली है, जो माइक्रो एलईडी उद्योग के लिए बहुत अच्छी खबर है।


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